斜方晶系の試料の粉末XRD結果をRIETANで解析しているんだが、各反射の強度比がどうにも合わない。
Liを含む物質なのだがその占有率が正確に決めることが出来ないことが原因かもしれないが。
合成のプロセスからある程度は正確になっているはず。

となると検討するのは、各原子の分立座標が偽の極小値に落ち込んでるかどうかって事だろうか?